PAUT系统可实现环焊缝和纵焊缝的检测，能够同时实现A扫描、TOFD灰度图像B扫描和相控阵S扫描成像。使用PA检测方法弥补了TOFD检测时产生的上下表面盲区的不足，直观的反应出表面及内部的埋藏缺陷的形态。
相控阵检测的优势：
1. 成像直观
2. 检测效率高
3. 可以存储检测记录
4. 可检测大壁厚零件覆盖上下表面盲区C扫描成像，并可快速知道缺陷步进方向的位置检测除焊缝以外的其他复杂形状零件，对气孔类缺陷检出率较高，同时对焊帽里面的缺陷也可以检出该系统实现TOFD和PA相结合的扫查检测，该系统能够实现A/B/C/S扫查图像，检测可以实时保存，便于后续查验审核。